用于檢測各種IC芯片針腳及其平整度

平整度檢驗是專門用于檢測各類IC芯片針腳及其平整度（水平直線度、共面度）、間隙、針腳寬度等參數的自動化檢測技術。該技術通過簡單設定即可實現自動識別與檢測，無需人員操作。

平整度檢驗儀檢測精度可達0.01mm以上，支持預設平整度誤差范圍并輸出控制信號剔除不合格品。主要功能包括檢測針腳數量、測量pitch間隔/寬度/高度等幾何尺寸、分析針腳共線度等平整度指標。系統配備報警裝置及圖像存儲功能，具有自學習能力，可通過RS232接口或以太網接收外部控制指令。

平整度檢驗儀圖像清晰直觀，可以方便快速準確的檢驗產品的平面度，明顯提高工作效率和產品質量！平整度檢驗在檢測標定平面度時能達到0.01mm以上的精度。可根據檢測要求設定平整度誤差范圍。對不符合要求的工件檢測后輸出控制信號，可用于剔除不合格品。

主要功能

檢測芯片針腳的個數；

可測量芯片針腳的多個位置的幾何尺寸，包括pitch間隔、寬度、高度等；

檢測針腳的共線度等平整度指標；

系統檢測到質量問題時，能發(fā)出報警信號，并輸出控制信號；

可對檢查出的所有廢品對應的圖像能夠存儲和查看；

系統有自學習功能，且學習過程操作簡單；

系統可通過RS232接口或以太網接收上位機控制信號